Équation de Black

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L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration. L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black. Dans un papier de 1967[1], Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste :

MTTF=Ajne(ΔHkT)

A est une constante
j est la densité de courant
n est un paramètre du modèle
ΔH est l'énergie d'activation en eV (électron-volt)
k est la constante de Boltzmann
T est la température absolue en K

Références

Notes

  1. J. R. Black, Mass Transport of Aluminum by Momentum Exchange with Conducting Electrons, 6th Reliability Physics Symposium, 1967

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