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  • ...www.keyence.fr |consulté le=2021-07-12}}.</ref>.Le nom de ce principe de [[métrologie]] est un hommage à l'industriel et physicien allemand [[Ernst Abbe|Ernest K [[Catégorie:Métrologie]] ...
    1 kio (191 mots) - 1 mars 2022 à 15:47
  • ...anisation internationale de métrologie légale|communauté internationale de métrologie]]. Ce dispositif est notamment utilisé dans la nouvelle définition du [[kil == Métrologie == ...
    4 kio (667 mots) - 27 août 2023 à 01:11
  • En [[métrologie]], on est souvent amené à la donner sous forme d'un [[intervalle de confian [[Erreur (métrologie)]] ...
    2 kio (242 mots) - 17 mars 2024 à 23:37
  • * [[Erreur (métrologie)]] ...
    1 kio (189 mots) - 2 mars 2024 à 19:04
  • Un '''système de mesure''' est l'ensemble matériel permettant des [[Mesurage (métrologie)|mesurages]] pour une application donnée. Il peut s'agir d'un seul [[instru ...'' (VIM)<ref>{{Lien web |titre=JCGM 200:2012. Vocabulaire international de métrologie – Concepts fondamentaux et généraux et termes associés (VIM) |url=https://w ...
    9 kio (1 408 mots) - 12 mars 2025 à 17:38
  • ...langue=fr |auteur1=Aimé Defix |titre=Éléments de métrologie générale et de métrologie légale |éditeur= |année=1985 |pages totales=222 |passage=59 |isbn=978-2-710 ...
    3 kio (524 mots) - 11 mars 2022 à 16:42
  • ...{{ouvrage |auteur1=Aimé Defix |titre=Éléments de métrologie générale et de métrologie légale |pages=72-74 |éditeur=Technip |isbn=978-2710804963}}</ref>. ...
    6 kio (951 mots) - 16 mars 2025 à 21:41
  • ...it sur des [[mesure physique|mesure]]s de [[flux lumineux|flux]] [[Étalon (métrologie)|étalonnées]] en [[unité de mesure|unité]]s absolues, pour être précis sur ...n [[astronomie]] (-2,5 si on prend un [[logarithme décimal]]) et avec un [[métrologie|point zéro]] correspondant à 3631 [[Jansky (unité)|janskys]]<ref name="refA ...
    3 kio (527 mots) - 2 janvier 2025 à 16:31
  • {{ébauche|métrologie|mécanique des fluides}} ...
    2 kio (271 mots) - 12 février 2025 à 15:59
  • ...de mesure) sont définies dans le cadre du ''Vocabulaire international de [[métrologie]]''<ref name="VIM">[http://www.bipm.org/fr/publications/guides/vim.html VIM ...métrologie. Ce terme est en effet absent du ''Vocabulaire international de métrologie''<ref name="VIM" />. Également, la qualité métrologique d'un instrument ou ...
    15 kio (2 394 mots) - 30 janvier 2025 à 14:17
  • ...ien sûr dans leurs applications à d’autres sciences ([[erreur (métrologie)|métrologie]], [[chimie]], [[sciences de la Terre]]). ...
    5 kio (762 mots) - 18 décembre 2024 à 05:58
  • ...ême opérateur, voir {{lien web | titre = VIM (vocabulaire international de métrologie | url = http://www.bipm.org/utils/common/documents/jcgm/JCGM_200_2008.pdf | ...e dérégler le micromètre. L'appareil doit être régulièrement [[Étalonnage (métrologie)|étalonné]] ; on utilise pour cela une [[cale étalon]] (micromètre d'extéri ...
    8 kio (1 282 mots) - 7 janvier 2025 à 12:02
  • ...et de la [[Seconde (temps)|seconde]]<ref name=LNE>Laboratoire National de métrologie et d'essai : « [http://www.lne.fr/fr/r_et_d/metrologie_electrique/metrologi ...''Représentation du Volt par l'effet Josephson''], Laboratoire National de métrologie et d'essai ...
    7 kio (1 014 mots) - 31 janvier 2025 à 10:39
  • ...erche|laboratoires]] ou en [[métrologie]], où s'effectuent des [[Mesurage (métrologie)|mesurages]], cette dispersion est estimée par l'[[écart type]]. * [[Calcul d'erreur]] ([[métrologie]]) ...
    9 kio (1 617 mots) - 4 mars 2025 à 20:36
  • ...e (métrologie)#Valeur d'une grandeur|valeurs]] attribuées à un [[Mesurage (métrologie)#Mesurande|mesurande]], à partir des informations utilisées}} (d'après le [ ...e (métrologie)#Valeur d'une grandeur|valeurs]] attribuées à un [[Mesurage (métrologie)#Mesurande|mesurande]], à partir des informations utilisées}}. ...
    17 kio (2 551 mots) - 19 septembre 2023 à 08:05
  • ...tante dans tout le domaine de la nanoélectricité, mais aussi et surtout en métrologie de l'électricité : en effet cela permet d'étalonner immédiatement, avec une ...=Les Ulis et Paris | éditeur=[[EDP Sciences]] et [[Laboratoire national de métrologie et d'essais|LNE]], hors {{coll.}} | mois={{date-|septembre|compact=oui}} | ...
    9 kio (1 181 mots) - 20 septembre 2022 à 14:17
  • == Métrologie == ...ination de la focale des systèmes optiques appartient à un domaine de la [[métrologie optique]] appelé [[focométrie]]. ...
    10 kio (1 541 mots) - 20 août 2024 à 11:36
  • ...'complexité cyclomatique''' ou la '''mesure de McCabe''' est un outil de [[métrologie]] logicielle développé par [[Thomas McCabe]] en 1976 pour mesurer la comple [[Catégorie:Métrologie logicielle]] ...
    6 kio (864 mots) - 25 juillet 2024 à 09:08
  • * [[Métrologie]] ...
    2 kio (372 mots) - 11 avril 2018 à 14:21
  • == Métrologie des angles == ...
    8 kio (1 177 mots) - 16 décembre 2024 à 08:24
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